半導體管性圖示儀  MHY-18163

半導體管性圖示儀采用示波管顯示半導體器件的各種性曲線，并測量其靜態參數。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電掃描電路，可以對被測半導體器件的司長行對比分析，便于對管或配件配對。本儀器IR測量達200nA/div，配備擴展裝置后，VC可達3KV；可測試CMOS及TTL門電路傳輸性；可對場效應管行配對或對管測試；可測試三端穩壓管性。 
集電掃描信號 
輸出電壓范圍及電容量 
0～5V 10A（4810A） 0～10V 5A 
0～50V 1A 0～100V 0.5A 
0～500V 0.1A     
基階梯信號 
階梯電 0.2μA/～50mA/，分17檔(XJ4810) 
  0.2μA/～100mA/，分18檔(XJ4810A) 
階梯電壓 0.05V～1V/，分5檔(XJ4810) 
  0.1V～2V/，分5檔(XJ4810A) 
Y軸偏轉系數 
集電電 10μA/div～0.5A/div，分15檔(XJ4810) 
  10μA/div～1A/div，分16檔(XJ4810A) 
二管電 0.2μA/div～5μA/div，分5檔 
倍率 ×0.1 
X軸偏轉系數 
集電電壓 0.05V/div～50V/div，分10檔 
  0.05V/div～1V/div，分5檔 
二族顯示 
二簇曲線左右分列顯示并可左右位移 
般性能 
適應電源 AC220V±10% 50Hz±4% 
視在率 約50VA（非測試狀態） 
  約80VA(zui大率) 
外形尺寸 320B×220H×400Dmm 
重量 17kg